Les tendances dans le domaine du test

Description de la conférence :
Le contexte économique mondial pesant de plus en plus sur les budgets, les ingénieurs de test se voient obligés de trouver des moyens plus efficaces que jamais de tester les matériels produits. National Instruments, leader mondial dans le domaine du test et mesure, a identifié trois grandes tendances – instrumentation définie par logiciel, technologies de traitement parallèle et nouvelles méthodes de test d’interfaces sans fil et de semi-conducteurs – qui vont permettre d'améliorer considérablement l'efficacité des systèmes de test et de mesure en 2009.
Ces tendances aident les ingénieurs à développer des systèmes de test automatisé plus rapides et plus souples, tout en réduisant leur coût global de test. Des entreprises du monde entier et de tous les secteurs bénéficient déjà des avantages offerts par ces nouvelles méthodes et technologies.

Intervenant :
Gérald ALBERTINI

Entreprise intervenante :